| 目前頁數: | 共 259 頁,1294 筆 |
|
注意力缺陷/過動障礙測驗-確認注意力缺陷╱過動障礙者的方法(ADHDT)Attention-Deficit/Hyperactivity Disorder Test
測驗功能:鑑定注意力缺陷/過動障礙者
管制等級:A 適用對象:四歲至十八歲十一個月 施測時間:不限 施測方式:由熟悉學生的師長或家長填寫 修訂/編製者:J. E. Gilliam編製;鄭麗月修訂 |
|
|
|
廣泛性發展障礙:自閉症暨智能障礙者量表(PDD-MRS)(Pervasive Developmental Disorder in Mental Retardation Scale)
測驗功能:伴隨智能障礙之廣泛性發展障礙及泛自閉症障礙篩檢
管制等級:A 適用對象:二至七十歲伴隨智能障礙之廣泛性發展障礙及泛自閉症障礙者 施測時間:20分鐘 施測方式:由熟悉受評者之師長或專業人員評量 修訂/編製者:林宏熾、黃湘儀譯 |
|
|
|
零歲至三歲華語嬰幼兒溝通及語言篩檢測驗(CLST)Communication and Language Screening Test for Birth to Three Chinese-Speaking Infant-Toddlers
|
|
|
|
阿肯巴克實證衡鑑系統(ASEBA)(Achenbach System of Empirically Based Assessment)
測驗功能:評估個體能力、適應功能及臨床常見的情緒及行為問題
管制等級:A 適用對象:一歲半至十八歲 施測時間:30分鐘 施測方式:個別施測、團體施測 (可由受試者自評或由熟悉兒童的照顧者或教師評量) 修 訂 者:陳怡群、黃惠玲、趙家琛 修訂 |
|
|
| 目前頁數: | 共 259 頁,1294 筆 |




.jpg)